| 测试分类 |
测试内容 |
所用设备 |
| 无机成分分析 |
发射光谱 |
无机材料元素的定性、半定量及定量分析 |
电感耦合等离子体发射光谱仪(ICP-OES)；
电感耦合等离子体发射光谱质谱联用仪(ICP-MS)；
X射线荧光光谱仪(XRF)；
火花直读光谱；
辉光放电发射光谱仪(GD-OES) |
| 吸收光谱 |
常量及微痕量元素分析 |
原子吸收光谱仪(AAS) |
| 气体元素分析 |
金属材料、陶瓷中氧和氮的定量分析 |
O、N分析仪；
C、S分析仪 |
| 结构分析 |
金相组织分析 |
高低倍组织检验及评定；
晶粒度评级；
非金属夹杂物含量测定；
脱碳层/渗碳硬化层深度测定 |
金相显微镜 |
| X射线衍射分析 |
物相定性；
物相定量；
晶胞参数；
纳米材料微结构(晶粒尺寸/微应力)；
Rietveld结构精修；
高温原位衍射(HTXRD)；
低温原位衍射(LTXRD)；
织构分析；
高分辨衍射(HRXRD)；
掠入射衍射(GID)；
全反射(XRR)；
微区衍射等 |
X射线粉末衍射仪(XRD)；
高分辨X射线衍射仪(HR-XRD)；
二维探测器X射线衍射仪 |
| 透射电镜分析 |
粉体形貌分析；
EDS元素定性半定量分析；
STEM+HAADF成像；
超薄片样制备及形貌分析；
高分辨晶格像；
选区电子衍射 |
透射电子显微镜(TEM)；
透射电镜样品制备设备 |
| 探针分析 |
表面形貌；
表面三维形貌；
EDS元素定性半定量分析；
元素面分布及线扫描；
微区相分析；
晶粒取向及极图分析；
半导体材料的发光特性；
部分无机非金属材料缺陷分析 |
扫描电子显微镜(SEM)；
扫描探针显微镜(SPM)；
激光共聚焦显微镜 |
| X射线光电子能谱分析 |
材料表面(深度小于10nm)元素及元素化学状态定性定量分析；
薄膜表面逸出功、价带分析；
薄膜角分辨或离子刻蚀深度剖析 |
X射线光电子能谱仪(XPS) |
| 有机分析 |
色谱 |
有机物的分离及定量分析 |
高效液相色谱(HPLC) |
| 质谱 |
微量有机物的定性和定量分析 |
液相色谱三重四极杆质谱联用仪(LC-MS-MS)；
气相色谱质谱联用仪(GC-MS)；
超高效液相色谱四极杆飞行时间质谱仪(UPLC-Q-TOF) |
| 光谱 |
有机物的鉴定和鉴别 |
红外光谱仪(IR)；
显微红外；
紫外-可见分光光度计(UV)；
拉曼光谱仪(Raman) |
| 核磁 |
有机物结构分析(氢谱、碳谱、氟谱、磷谱等) |
核磁共振谱仪(NMR) |
| 元素 |
有机化合物、高分子材料、药物、石油产品等材料中C、H、N、S、O含量的测定。 |
有机元素分析仪 |
| 物理性能分析 |
力学性能(缺) |
抗压强度；
弯曲强度；
抗剪强度；
抗拉强度；
洛式硬度；
维氏硬度；
显微硬度；
弹性模量 |
万能材料试验机；
硬度计；
显微硬度计 |
| 热学性能 |
材料分解温度；
玻璃化转变温度；
热失重；
相变温度及相变焓(熔点、结晶、相转变)；
反应温度及反应焓；
动态力学性能测试(储存模量、 损耗模量)；
比热容测试；
材料导热性能测试(导热系数、热扩散系数) |
热重/差热综合热分析仪(TG-DTA)；
差示扫描量热仪(DSC)；
动态热机械分析仪(DMA)；
激光导热仪(LFA)；
综合物性测量系统(PPMS) |
| 电学性能 |
电阻率；
Hall系数；
临界电流；
各向异性磁电阻；
材料微区导电性测试；
材料表面电畴观察 |
综合物性测量系统(PPMS)；
扫描探针显微镜(SPM) |
| 光学性能 |
全反射率；
漫反射率；
截止波长；
透过率；
材料荧光性能；
磷光寿命 |
紫外-可见分光光度计(UV)；
荧光光谱仪；
量子效率测试系统 |
| 磁学性能 |
磁滞回线；
热磁曲线；
饱和磁化强度；
剩磁；
矫顽力；
居里温度；
交流磁化率；
磁畴观察等 |
综合物性测量系统(PPMS)；
磁学性能测试系统(MPMS)；
扫描探针显微镜（SPM） |
| 粒度及比表面分析 |
粒度分布；
Zeta电位；
微、介、大孔材料比表面积、孔径分布及孔隙率测试 |
微米粒度仪；
纳米粒度仪；
比表面测试仪(BET)；
压汞仪 |
| 密度 |
密度值；真密度 |
分析天平；
压汞仪 |
| 催化剂性能测试 |
催化剂、催化剂载体和其他各种材料的相关物理特性；
金属表面积；
表面酸性、活性位点的分布和强度 |
化学吸附仪 |
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