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FEI透射电子显微镜

时间:2015-01-11 字体大小:

透射电子显微镜 (Transmission Electron Microscope)

 

厂 商 美国FEI公司

型 号 Tecnai F20

到货日期 2007年9月

技术指标:

加速电压:200kV

电子枪:热场发射电子源,能量分辨率£0.7eV;

点分辨率:0 .24 nm;

信息分辨率:0 .14 nm;

线分辨率:0 .102 nm;

放大倍数:25~1,030,000倍

STEM高角环形暗场像分辨率:0 .19 nm;

X射线能谱仪的元素分析范围:Be4~U92

主要用途

透射电子显微镜用来研究各种材料的物质内部显微结构,配合能谱仪附件可以对各种元素进行微区成分分析,提供了从微米直到原子尺度直接观察形貌、界面及晶体缺陷的技术,广泛应用于材料、物理、生物、化学、光电子及纳米技术等领域。主要用途如下:

观察材料的内部显微结构,分析粒径、相组成、生长取向,分析晶体及晶界的缺陷等;

进行材料微区成分分析,及元素的线或面分布;

利用高角环形暗场像,可以观察轻重元素的分布。

 

 

 

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