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冷场SEM(S-4800)

时间:2015-01-11 字体大小:

场发射扫描电镜 (Field Emission Scanning Electron Microscope)

 

厂 商 日本日立公司

型 号 S-4800

到货日期 2007年6月

主要技术指标: 

1、二次电子分辨率:1.0nm (15kV);2.0nm (1kV); 催化剂(Pt on C)1.4nm (1kV减速模式) Catalyst(Pt on C)

2、背散射电子分辨率:3.0 nm (15 kV)

3、加速电压:0.5~30kV

4、电子枪:冷场发射电子源

5、放大倍率:30~800,000倍

6、X射线能谱仪的元素分析范围:Be4~U92

主要用途

用于观察材料表面的微细形貌、断口及内部组织,并对材料表面微区成分进行定性和定量分析,主要用途如下: 

1、金属、 陶瓷、混凝土、生物、高分子、矿物、纤维等无机或有机固体材料的断口、表面形貌、变形层等的观察;

2、材料的相分布和夹杂物形态成分的鉴定;

3、金属镀层厚度及各种固体材料膜层厚度的测定;

4、纳米材料及其它无机或有机固体材料的粒度观察和分析 ;

5、进行材料表面微区成分的定性和定量分析。

 

放置地点:测试中心C113实验室

设备负责人: 管建敏85585106 

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