检测项目
测试分类 | 测试内容 | 所用设备 | |
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无机成分分析 | 发射光谱 | 无机材料元素的定性、半定量及定量分析 | 电感耦合等离子体发射光谱仪(ICP-OES); 电感耦合等离子体发射光谱质谱联用仪(ICP-MS); X射线荧光光谱仪(XRF); 火花直读光谱; 辉光放电发射光谱仪(GD-OES) |
吸收光谱 | 常量及微痕量元素分析 | 原子吸收光谱仪(AAS) | |
气体元素分析 | 金属材料、陶瓷中氧和氮的定量分析 | O、N分析仪; C、S分析仪 | |
结构分析 | 金相组织分析 | 高低倍组织检验及评定; 晶粒度评级; 非金属夹杂物含量测定; 脱碳层/渗碳硬化层深度测定 | 金相显微镜 |
X射线衍射分析 | 物相定性; 物相定量; 晶胞参数; 纳米材料微结构(晶粒尺寸/微应力); Rietveld结构精修; 高温原位衍射(HTXRD); 低温原位衍射(LTXRD); 织构分析; 高分辨衍射(HRXRD); 掠入射衍射(GID); 全反射(XRR); 微区衍射等 | X射线粉末衍射仪(XRD); 高分辨X射线衍射仪(HR-XRD); 二维探测器X射线衍射仪 | |
透射电镜分析 | 粉体形貌分析; EDS元素定性半定量分析; STEM+HAADF成像; 超薄片样制备及形貌分析; 高分辨晶格像; 选区电子衍射 | 透射电子显微镜(TEM); 透射电镜样品制备设备 | |
探针分析 | 表面形貌; 表面三维形貌; EDS元素定性半定量分析; 元素面分布及线扫描; 微区相分析; 晶粒取向及极图分析; 半导体材料的发光特性; 部分无机非金属材料缺陷分析 | 扫描电子显微镜(SEM); 扫描探针显微镜(SPM); 激光共聚焦显微镜 | |
X射线光电子能谱分析 | 材料表面(深度小于10nm)元素及元素化学状态定性定量分析; 薄膜表面逸出功、价带分析; 薄膜角分辨或离子刻蚀深度剖析 | X射线光电子能谱仪(XPS) | |
有机分析 | 色谱 | 有机物的分离及定量分析 | 高效液相色谱(HPLC) |
质谱 | 微量有机物的定性和定量分析 | 液相色谱三重四极杆质谱联用仪(LC-MS-MS); 气相色谱质谱联用仪(GC-MS); 超高效液相色谱四极杆飞行时间质谱仪(UPLC-Q-TOF) | |
光谱 | 有机物的鉴定和鉴别 | 红外光谱仪(IR); 显微红外; 紫外-可见分光光度计(UV); 拉曼光谱仪(Raman) | |
核磁 | 有机物结构分析(氢谱、碳谱、氟谱、磷谱等) | 核磁共振谱仪(NMR) | |
元素 | 有机化合物、高分子材料、药物、石油产品等材料中C、H、N、S、O含量的测定。 | 有机元素分析仪 | |
物理性能分析 | 力学性能(缺) | 抗压强度; 弯曲强度; 抗剪强度; 抗拉强度; 洛式硬度; 维氏硬度; 显微硬度; 弹性模量 | 万能材料试验机; 硬度计; 显微硬度计 |
热学性能 | 材料分解温度; 玻璃化转变温度; 热失重; 相变温度及相变焓(熔点、结晶、相转变); 反应温度及反应焓; 动态力学性能测试(储存模量、 损耗模量); 比热容测试; 材料导热性能测试(导热系数、热扩散系数) | 热重/差热综合热分析仪(TG-DTA); 差示扫描量热仪(DSC); 动态热机械分析仪(DMA); 激光导热仪(LFA); 综合物性测量系统(PPMS) | |
电学性能 | 电阻率; Hall系数; 临界电流; 各向异性磁电阻; 材料微区导电性测试; 材料表面电畴观察 | 综合物性测量系统(PPMS); 扫描探针显微镜(SPM) | |
光学性能 | 全反射率; 漫反射率; 截止波长; 透过率; 材料荧光性能; 磷光寿命 | 紫外-可见分光光度计(UV); 荧光光谱仪; 量子效率测试系统 | |
磁学性能 | 磁滞回线; 热磁曲线; 饱和磁化强度; 剩磁; 矫顽力; 居里温度; 交流磁化率; 磁畴观察等 | 综合物性测量系统(PPMS); 磁学性能测试系统(MPMS); 扫描探针显微镜(SPM) | |
粒度及比表面分析 | 粒度分布; Zeta电位; 微、介、大孔材料比表面积、孔径分布及孔隙率测试 | 微米粒度仪; 纳米粒度仪; 比表面测试仪(BET); 压汞仪 | |
密度 | 密度值;真密度 | 分析天平; 压汞仪 | |
催化剂性能测试 | 催化剂、催化剂载体和其他各种材料的相关物理特性; 金属表面积; 表面酸性、活性位点的分布和强度 | 化学吸附仪 |
日期:2014-01-01