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测试中心新仪器运行公告(2021年1月) |
时间:2021-01-26 |
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仪器名称 | 主要功能及指标 | 放置地点 | 负责人 | 高功率转靶X射线衍射仪 | 主要功能: 高功率转靶X射线衍射仪配有旋转阳极Cu靶和90位自动进样器。用于研究材料的物相组成、多晶样品的常规物相分析和定量分析, 晶胞参数的测定与修正,未知多晶样品的X射线衍射指标化,晶粒尺寸和结晶度计算、Rietveld结构精修等。 主要指标: ● 旋转阳极Cu靶: X射线发生器最大输出功率6kW,额定电压40kV,额定电流150mA; ● 阵列探测器:能量色散型,能量分辨率优于380eV; ● 动态光学系统 ● 测角仪工作方式:θ/θ方式; ● 2θ转动范围:- 10°~168° ● 全谱范围角度偏差不超过±0.007°度 ● 角度重现性:±0.0001° 样品要求: ● 粉末:样品需研磨成粉末,并过筛; ● 块体:测试面光滑平整,厚度≤5mm,直径≤40mm。 | C306 | 孙洁 钟影 86685110 | 高分辨X射线衍射仪 | 主要功能: 高分辨X射线衍射仪配有Gobel 反射镜和Ge分析晶体单色器,可获得近平行的入射X射线。能够精确进行半导体单晶和外延层材料的结晶完整性分析,外延层及相应半导体器件结构的组分、厚度、弛豫度等参数的测定,外延结构的晶格失配及应变状态分析, Area Map均匀性分析,倒易空间mapping (RSM),双轴晶和三轴晶X射线衍射,对称和非对称扫描等多晶薄膜的掠射分析、反射率分析,可以对单晶、薄膜及纳米材料等进行精细的X射线衍射分析。 主要指标: ● X射线发生器:Cu靶,功率3kW,陶瓷光管 ● 光学附件:Gobel镜、两次反射Ge(022)单晶单色器、四次反射Ge(022)单色器 ● 扫描方式:θ-θ测角仪 ● 探测器:LynxEye阵列探测器 ● 高精度五轴全自动尤拉环:CHI圆,-11°-- 98°;PHI圆,360度 ;X轴平移,80mm ;Y轴平移,80mm;Z轴平移,2mm; ● 倾斜样品台:提供Zeta和Xi 两个自由度; ● 面内衍射部分:可旋转探测器臂,可实现面外(out plane)2theta与面内(in plane)2theta自动切换。 样品要求: ● 外延薄膜 ● 高质量的多晶、单晶多层薄膜 | C310 | 孙洁 钟影 86685110 |
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