冷场型透射电子显微镜运行公告
 

仪器名称

品牌

型号

主要功能及指标

放置地点

负责人

冷场型透射电子显微镜

日本电子株式会社(JEOL

JEM-F200

主要功能:

JEM-F200冷场型透射电镜安装高稳定性、高亮度和高能量分辨率的冷场发射电子枪,高亮度的电子束缩短了分析时间,并且还降低了来色差,实现了高分辨率的观察。该设备采用全新的四级聚光镜设计,分别控制亮度和汇聚角,能最大程度发挥出STEM功能的优势。该设备配备有双探头超级能谱仪,能够实现快速高精度的EDS Mapping分析。

主要指标:

TEM点分辨率:0.23 nm

TEM线分辨率:0.1 nm

STEM分辨率:0.16 nm 

大面积双探头能谱仪:固体角1.7 srad、面积200 mm2

样品要求:

 1)纳米粉末:一般要求颗粒尺寸小于200 nm(电子束可穿透),颗粒表面清洁(表面活性剂等需清洗)。样品不含结晶水,在电子束辐照稳定;

2)块体样品:需预先制备符合TEM观测要求的薄区,通常采用离子减薄或聚焦离子束(FIB)手段进行TEM样品制备;

3)磁性样品测试,需要联系管理员。

CD楼之间

新建实验室
C131

庄伯翔

陈国新

86699925

作者:, 日期:2023-04-02