测试中心新仪器运行公告(2021年1月)

仪器名称

主要功能及指标

放置地点

负责人

高功率转靶X射线衍射仪

主要功能:

高功率转靶X射线衍射仪配有旋转阳极Cu靶和90位自动进样器。用于研究材料的物相组成、多晶样品的常规物相分析和定量分析, 晶胞参数的测定与修正,未知多晶样品的X射线衍射指标化,晶粒尺寸和结晶度计算、Rietveld结构精修等。

主要指标:

旋转阳极Cu靶: X射线发生器最大输出功率6kW,额定电压40kV,额定电流150mA

阵列探测器:能量色散型,能量分辨率优于380eV

动态光学系统

测角仪工作方式:θ/θ方式;

转动范围:- 10°168°

全谱范围角度偏差不超过±0.007°

角度重现性:±0.0001°

样品要求:

粉末:样品需研磨成粉末,并过筛;

块体:测试面光滑平整,厚度≤5mm,直径≤40mm

C306

孙洁

钟影

86685110

高分辨X射线衍射仪

主要功能:

高分辨X射线衍射仪配有Gobel 反射镜和Ge分析晶体单色器,可获得近平行的入射X射线。能够精确进行半导体单晶和外延层材料的结晶完整性分析,外延层及相应半导体器件结构的组分、厚度、弛豫度等参数的测定,外延结构的晶格失配及应变状态分析, Area Map均匀性分析,倒易空间mapping (RSM),双轴晶和三轴晶X射线衍射,对称和非对称扫描等多晶薄膜的掠射分析、反射率分析,可以对单晶、薄膜及纳米材料等进行精细的X射线衍射分析。

主要指标:

X射线发生器Cu靶,功率3kW,陶瓷光管  

光学附件:Gobel镜、两次反射Ge(022)单晶单色器、四次反射Ge022)单色器

扫描方式:θ-θ测角仪  

探测器:LynxEye阵列探测器  

高精度五轴全自动尤拉环:CHI圆,-11°-- 98°PHI圆,360 X轴平移,80mm Y轴平移,80mmZ轴平移,2mm

倾斜样品台:提供ZetaXi 两个自由度;

面内衍射部分:可旋转探测器臂,可实现面外(out plane)2theta与面内(in plane)2theta自动切换。

样品要求:

外延薄膜

高质量的多晶、单晶多层薄膜

C310

孙洁

钟影

86685110

作者:, 日期:2021-01-26