曾毅研究员首先由SEM能否看到晶粒这一问题引入，介绍了传统的SEM只能对材料的表面形貌进行观测，而对于晶粒度及晶粒取向无能为力。由于电子背散射衍射仪（EBSD）的技术发展和成熟，使得扫描电镜的功能性得到质的飞跃，从传统的形貌研究设备跨越到结构分析仪器。EBSD作为快速而准确的晶体取向测量的强有力分析工具，主要应用是取向检测、织构分析、相鉴定、应力分析等。EBSD技术已成为一种继X光衍射和电子衍射后的一种微区结构分析手段，具有高速、大面积的统计分析优势，尽管商业EBSD仅仅问世20年，已经在材料科学、地质、考古等领域发挥了重要的作用。曾毅研究员在报告中讲述到目前商业软件对菊池带的分析和标定方法，并阐述了其中的不足，并介绍了自己团队在菊池带高精度标定工作中的研究进展，以及利用此标定算法在EBSD物相鉴定、应力分析等领域中的应用。

      该报告集中了曾毅研究员多年的实际测试和研究工作积累，实用性强，涉及到软件底层的算法，大大拓宽了与会者的视野，受到了与会者的热切关注。报告结束后，与会人员与曾毅老师展开了热烈的讨论。

 

公共技术服务中心 苗利静