9月19日，应公共技术服务中心的邀请，Bruker AXS 公司XRD应用专家杨宁博士在我所E三楼报告厅做了关于“X射线技术的应用与解决方案”的专题技术培训，吸引了近百名科研人员和研究生的积极参与，反响强烈。

在为时一天的培训中，杨宁博士以自己多年来的X射线衍射应用经验，除了向大家深入浅出地介绍了粉末衍射的基本原理，测试中容易出现的问题以及解决方案，操作注意事项等内容外，还详细介绍了TOPAS软件全谱拟合的基本原理和方法、定量分析的方法、粉末样品如何解析结构等。并向科研人员着重介绍了薄膜材料的X射线测试技术。

杨博士用简单易懂的语言，使大家明白了X射线粉末衍射和谱拟合的基本原理，懂得了结构精修的基本方法，也使大家进一步了解了X射线测试技术的各种功能及主要应用领域，为今后更好地用好XRD强大的分析手段提供了借鉴。培训过程中杨博士和大家互动频繁、讨论激烈，在培训结束后现场有各位科研人员积极提问，杨博士根据不同情况做出了合理的解答，让大家受益非浅。

杨宁博士现为德国Bruker AXS 公司驻北京代表处国际应用专家兼应用经理。他1997年毕业于北京科技大学材料科学与工程专业，2000年和2004年分别取得清华大学硕士学位和美国爱荷华州立大学博士学位，其后他分别供职于美国阿贡国家实验室和Bruker AXS美国分公司，研究领域包括高分辨衍射应用和同步辐射光源的衍射应用等。

                                       2014-9-20