NanoMill微束定点离子减薄仪
微束定点离子减薄仪、
(2)离子减薄样品:需预先制备符合TEM观测要求的薄区,再在光镜下标定需要精修的区域。
型号:MODEL1040
投用时间:2023年2月
主要功能: NanoMill微束定点离子减薄仪是一款超低能量微束离子束制样设备,它具有超低能量的惰性气体Ar离子源。该设备具备扫描功能的聚焦离子束,最小离子束斑1微米,去除非晶层的同时,不产生二次沉积效应,能够有效去除非晶层及离子注入问题。该设备还具备离子成像功能,能够高精度定位去除非晶层,是FIB样品/离子减薄样品后续精修绝佳制样工具。 主要指标: ◆ 离子能量范围:50 eV ~ 2 keV; ◆ 冷台控温范围:-170℃~室温; ◆ 离子束束斑尺寸:≤1 μm ; ◆ 样品台倾转角度:-12°~ +30°; ◆ 最大离子束流:≥1 mA/cm2。 样品要求: (1) FIB样品:一般要求FIB样品长度>10μm,最好以侧焊方式固定,样品内侧镂空以防止反沉积 ; |
放置地点:测试中心C117;管理员:沈圣成86685251
作者:, 日期:2023-04-02