主要功能：

X射线显微镜主要在微纳尺度下以无损检测的方式表征材料内部三维形貌特征，可以提供例如孔隙率，体积比，取向分析等量化分析手段，致力于新材料的研发，可用于微型电子器件、传感器、陶瓷材料、高分子聚合物、复合材料、动力电池检测、增材制造等。

X射线显微镜配置原位力学实验平台，支持拉力/压力/温度环境下微米级分辨率四维成像。

主要指标：

● X射线源工作电压，30~160 kV；

● X射线源最大工作功率：25W ；

● 最大空间分辨率：500 nm；

● 可实现的体素：40 nm；

● 具备CCD探测器，像素数量：2048 × 2048, 像素尺寸为15 μm；

原位测试模块：

● 测试压力和拉伸力：0~5 kN；

● 最大轴向位移：10mm；

● 轴向位移速度：0. 1mm/min ～ 1mm/min；

● 测试温度范围：-20 ºC ~ +160ºC

样品要求：