|
当前所在位置:首页 > 仪器共享 > 公共技术服务中心仪器介绍 > 微观形貌类 |
Verios G4 UC热场发射扫描电子显微镜 |
时间:2019-03-08 |
字体大小: |
Verios G4 UC热场发射扫描电子显微镜
生产厂商:美国Thermo Sicentifc 型号:Verios G4 UC 投用时间:2018年9月 主要功能: 扫描电子显微镜依据电子与物质的相互作用,利用聚焦的高能电子束在试样上扫描,激发出各种物理信息。通过对这些信息的接受、放大和显示成像,获得测试试样表面形貌。如纳米材料、材料断口、试样原始表面、试样厚度等。同时可以配备能谱仪等附件,在观察样品形貌的同时进行成分和元素分析,以及通过电子背散射衍射技术分析确定晶体结构、取向及相关信息。 主要附件: u Oxford Extreme 无窗能谱 u Oxford X-Max 50能谱 u Oxford Symmetry EBSD 主要指标: ◆分辨率:15-2 KV 06 nm 1 KV 0.7 nm 500 V 1.0 nm 200 V 1.2 nm 放置地点:测试中心C-105 负责人:姚懿容86690215
|
打印本文本 | 收藏本文 | 回到顶部
|
|