当前所在位置:首页 > 仪器共享 > 公共技术服务中心仪器介绍 > 微观形貌类

二维面探X射线衍射仪

时间:2016-08-01 字体大小:

Two-Dimensional X-ray Dffraction 

商: Bruker AXS
号:D8 Discover
到货日期:20163

 

性能指标:

X光管类型:Cu靶、Co靶、Cr靶,功率2.2KW

角度重现性:±0.0001°,最小可读步长:0.0001°;

准确度:测试标准样品在10~160°范围内角度偏差不超过±0.05°;

立式测角仪,1/4尤拉环;

探测器有效面积:≥14000mm2,探测器像素个数2048* 2048

主要功能:

二维面探X射线衍射仪配有高精度五轴全自动样品台,主要用于织构/取向

分析、微小区域分析、应力分析和取向样品的结晶度测量等研究领域。采用二维探测器XRD可直接处理二维德拜环的测量数据,解决了常规探测器微区强度衰减过大的问题,具有精度高、速度快等常规一维探测器无可比拟的优点;

纤维原位样品台,可测定变温及拉伸过程中纤维/薄膜样品结构变化;

高温原位测试系统可测试薄膜/块体材料高温织构和物相变化。

放置地点:测试中心C-306

负责人:孙洁/钟影86685110

 打印本文本   |    收藏本文   |    回到顶部