高分辨X射线衍射仪 仪器厂商:德国布鲁克公司/Bruker AXS 型号:D8 Discover 到货日期:2007年6月 技术指标: ● Cu靶X光管电压≤50kV、电流≤40mA ● 测角仪工作方式:θ/2θ方式 ● 扫描范围:- 3°~150° ● 5轴尤拉环样品台的测试范围: K轴:-10°到91° F轴:±360° X轴:-50mm到+50mm Y轴:-50mm到+50mm Z轴:-1.5mm到+2mm ● 测角仪精度:0.0001°、准确度≤0.02° 功能特点: 高分辨X射线衍射仪配有Gobel 反射镜和双晶单色器,可获得近平行的入射X射线,可以对单晶、薄膜及纳米材料等进行精细的X射线衍射分析。 主要用途: ● 单晶及单晶外延膜分析 ● 摇摆曲线的测定及φ扫描 ● 三轴晶衍射测量(即倒易空间等强度分布图测量,Mapping) ● 薄膜的物相分析、厚度及粗糙度测量 ● 小角散射测试
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