厂商：日本JEOL公司

型号：JEOL2100 HR

主要技术指标

电子枪： LaB6（六硼化镧）

点分辨率：0.23 nm

线分辨率：0.14 nm

加速电压：200kV

束斑尺寸：1.0-25 nm

放大倍数（高倍）：2000~1,500,000

放大倍数（低倍）：50~6,000

倾斜角：±30o

能谱分辨率：≤126 eV

主要配置

OXFORD能谱仪、Gatan公司831 CCD相机、单倾样品样品台、双倾样品样品台、低背底铍双倾样品台、GMS2.0.0软件包等。

主要用途

透射电子显微镜主要用来研究各种材料的内部显微结构，可以从微米直到原子尺度对材料的形貌、界面及晶体缺陷等进行直接观察。TEM主要用来观察材料内部显微结构，分析粒径、相组成、生长取向，分析晶体及晶界的缺陷等。我所的 JEOL2100 透射电子显微镜配有牛津的能谱仪，可同时分析材料的显微结构和元素成分。目前透射电镜广泛应用于材料、物理、生物、化学、光电子及纳米技术等领域。