场发射扫描电子显微镜（热场）(Field Emission Scanning Electron Microscope)

厂商：美国FEI

型号： FEI QUANTA 250 FEG

到货日期： 2011年3月

主要参数：分辨率：

1）高真空

1.0nm 30kV（SE）；3.0nm 1kV以下 ；2.5nm 30kV (BSE)

2）高真空减速模式

3.0nm1kV以下（BSE）； 2.3nm 1kV以下（ICD）

3）低真空

1.4nm 30kV（SE）；2.5nm 30kV（BSE）

4）环境真空（ESEM）

1.4nm 30kV （SE）

电子枪：高分辨肖特基场发射电子枪

加速电压：220v-30kV

X射线能谱仪的元素分析范围：Be4～U92

主要用途： 

金属、 陶瓷、混凝土、生物、高分子、矿物、纤维等无机或有机固体材料的断口、表面形貌的观察；

材料的相分布和夹杂物形态成分的鉴定；

金属镀层厚度及各种固体材料膜层厚度的测定；

进行材料表面微区成分的定性和定量分析。

放置地点：测试中心C109实验室

设备负责人： 蒋蓉蓉86685247