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纳米X射线显微镜 (Nano-CT)

时间:2015-11-10 字体大小:

厂商:Carl Zeiss

型号:ZEISS Xradia 800 Ultra

 

参数与指标:

1. 高低分辨率

高分辨:优于50nm真实空间分辨率,

低分辨:150-200nm,要求与高分辨测量匹配。

2. X射线源:旋转阳极X射线源,X 射线管电压40KV,功率1.2KW

Cu靶,光子能量8keV, 微处理控制。

3. 高效率X射线探测器,CCD相机通过光学系统耦合到闪烁体板:

像素数量:1024 X 1024

灰度级数:16 Bit

动态范围:16

4. 集成式移动控制和数据采集系统,带有自动图像对中/预对中显微镜样品对中功能。

集成式可见光预对中显微镜:

视场范围 640 X 480 um

放大倍数 10X,分辨率 ≤2 um,像素尺寸1um

照明:可切换反射式和透射式

 

主要配置及附件:

挠性基座样品架,带有针钳和运动基座;刚性背夹式样品架,带有运动基座。

 

特色及用途:

Xradia 800 Ultra 是唯一一款用于显微样品三维成像的实验室级超高分辨率CT 扫描仪。高精度 X 射线聚焦光学器件可提供 50 nm 的分辨率,扩展了X 射线 CT的性能,使其远胜于传统CT扫描仪。利用 X 射线无损成像的特性提供样品内部结构的三维图像,并且无需对相关区域进行切割或切片。主要用于断层扫描重构的图像自动对准功能,视野可在 15 60 μm 的范围内进行切换。

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