5月17日下午，宁波材料所测试中心分析测试论坛第四期开讲，本次论坛邀请清华大学高级工程师姚文清、李展平来所进行学术交流，并分别做了题为“电子能谱技术与纳米材料表征”和“飞行时间二次离子质谱（TOP-SIMS）分析技术及其应用”的学术报告。

姚文清老师的报告主要介绍了AES和XPS在纳米材料表面研究中的应用。俄歇电子能谱主要用于化学态分析、失效分析、材料缺陷、催化剂等，有着很高的灵敏度，检测深度约为3~10原子单层（0.4~5nm），空间分辨率达5nm。姚老师结合卫星用传感器失效分析、战国竹简-红色物质分析、重庆大足千手观音-鉴定不同年代包覆金箔受环境影响分析等实例，让与会者更清楚地了解了俄歇电子能谱的功能。在报告的后半部分，姚老师介绍了XPS对过渡金属化合价判断、紫外辐照作用下的Au/Cu薄膜的电子迁移等。

李展平老师的报告由介绍了TOF-SIMS的基本原理和技术特点，以及它在有机、无机、生物、医学、电子等各种领域的应用。飞行时间二次离子质谱（TOP-SIMS）能以极高的灵敏度（ppm~ppb）探测到包括H在内的所有元素及化合物信息。TOP-SIM包括有机质谱和无机质谱，是最前沿的表面分析技术。该仪器能揭示真正表面和近表面原子层的化学组成，其信息量也远远超过了简单的元素分析，可以用于鉴定有机成分的分子结构。

两位老师的报告结束后，现场与大家进行了深入讨论，现场交流气氛热烈，与会人员受益匪浅。

姚文清，高级工程师，国家电子能谱中心副主任。一直从事表面化学分析方法学研究和分析仪器研制。先后主持或作为骨干承担多项科技创新方法专项、国家基金委仪器专项、国家973计划和863等项目。完成制定仪器分析方法国际标准1项、国家标准12项，国家发明专利授权和申请5项，发表SCI论文90余篇，论著2部。

李展平，2005年在日本东北大学获博士学位，主要从事表面物理及表面分析研究工作等。1986年6月-1991年4月，清华大学无线电电子学系助教、助理研究员；1991年6月-2005年12月，赴日本ULVAC-PHI 株式会社表面分析室工作，历任俄歇电子能谱(AES)、X射线光电子能谱(XPS)、二次离子质谱(SIMS)分析实验室主事(专家)；2006年1月至今被人才引进清华大学分析中心，任高级工程师。目前主要利用AES、XPS、SIMS等表面分析技术从事固体材料表面分析、结构表征等研究。已发表学术论文三十多篇。

                        公共技术服务中心                         2017-5-18